超聲波膜厚計(jì)
簡要描述：LU-200J超聲波膜厚計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)： LU-200J超聲波膜厚計(jì)
所屬分類：膜厚計(jì)
更新時(shí)間：2024-08-14
詳細(xì)說明：
| 測(cè)定方法 | 超聲波反射式 | | 測(cè)定對(duì)象 | 樹脂、玻璃、金屬等基體上的涂鍍層 | | 測(cè)定范圍 | 10～700um | | 測(cè)定精度 | <50um±2um >50um±4% | | 分辨率 | 1um | | 統(tǒng)計(jì)功能 | 測(cè)試數(shù)/標(biāo)準(zhǔn)偏差
zui大值/zui小值/平均值 | |
| 信號(hào)輸出 | RS232標(biāo)準(zhǔn)接口 | | 顯示方式 | LCD數(shù)顯 | | 操作面板 | 密封防水按鍵 | | 附屬品 | 鐵基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/測(cè)頭/電池曲面支架/皮套/說明書 | | 電源 | 5#堿性電池×6個(gè) | | 體積 | 本機(jī)120（W）×250（D）×55（H）
測(cè)頭￠63×85（H） | | 重量 | 本機(jī)800g 測(cè)頭220g | |
